安捷伦科技公司日前推出业界首款数字射频(DigRF)V4 测试解决方案。它为射频集成电路(RF-IC)和基带 IC(BB-IC)的设计人员以及无线手机集成商提供全面的激励和分析能力。

DigRF V4 由 MIPI(移动行业处理器接口)联盟开发而成，是移动基带和射频芯片之间的一种高速数字串行总线，也是 LTE 和 WiMAX 的关键技术。

“交叉域”测试(例如 DigRF V4)可提供从单个数字比特到 IQ 调制射频信号的全新分析能力。安捷伦的测试解决方案支持工程师在所选的域(数字或射频)和抽象层(物理层或协议层)中进行测试，以快速表征 RF-IC ，解决交叉域集成问题。

安捷伦数字无线测试解决方案将 DigRF V4 激励和协议分析工具集成到了安捷伦最畅销的数字、射频和无线仪器中。新型 Agilent RDX(无线数字交叉域)测试仪包括两个全新模块，即 Agilent N5343A 试验器模块和 N5344A 分析模块，它们均安装在小型模块化 Agilent N2X 主机内。这种模块化结构设计可以支持未来的 MIMO 设计。

Agilent E5345A 和 E5346A 有源探测解决方案具有超低电容负载(小于 0.15 pF)和高灵敏度，能够在 DigRF V4 测试中以千兆位速度对系统进行深入分析，而且干扰最小。设计工程师可以选择采用软接触技术的新型 Agilent N5345A 中间总线探头来快速探测原型电路板，也可选择 B5346A 飞线探测解决方案在空间有限的设计中轻松监测 DigRF V4 链路。

该解决方案还支持 DigRF V4 和 V3 技术指标，因而可以保护用户的投资。此测试软件环境包括协议生成和分析功能，并能与业界领先的 Agilent Signal Studio 软件和 89600 矢量信号分析软件实现互通。该软件支持 DigRF 试验器和分析模块，以及信号分析仪和信号源。通过使用这款熟悉的矢量信号生成和分析软件，射频工程师可以极大地节省测试时间。

安捷伦科技副总裁兼数字测试分部总经理 Siegfried Gross表示：“DigRF V4 解决方案使 RFIC 工程师和系统集成商可以在交叉域中进行最快的分析，从而缩短 4G 移动产品的开发周期。安捷伦提供可完美结合无线应用模型的新工具，可使客户将移动设备体系结构转换为数字技术，为数字、串行协议和无线测试提供解决方案。”

安捷伦科技副总裁兼无线事业部总经理 Ron Nersesian表示：“随着 WiMAX 和 LTE 技术的发展，融合数字和无线领域同时推动测试标准实现互通的需求正变得越来越重要。我们在这两个领域都拥有丰富的专业知识，可为这两大领域的融合提供完整的解决方案，帮助客户充满信心地完成从原型设计到集成的整个手机设计过程。”