香港科技大学电子计算机及工程系张成志教授在上海第四届中国无线射频识别（RFID）技术发展国际研讨会暨展览会发表题为:“RFID基准测试方法学及应用” 的报告。张教授在报告中介绍了RFID基准测试方法学，提出了不同品牌标签在不同环境下的应用。协助业界解决了RFID在实际应用中如何有效地选取标签的问题。

张教授还表示，香港科技大学电子计算机及工程系将开始3大研究，分别为：安全基准测试、定位感知研究和基准测试报告。

11月3日-5日，2009第四届中国无线射频识别（RFID）技术发展国际研讨会暨展览会在上海举行，展示了RFID 在过去一年的成果和探讨了中国RFID产业的发展。出席此次活动的有政府官员、主管领导、专家学者、行业精英等400余名国内外嘉宾。